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聯(lián)訊儀器 | CoC全自動測試系統(tǒng)CT6201
2022.12.07

半導體激光器通常根據(jù)老化前（Pre-Burn In）及老化后（Post Burn-In）測量的一個或多個關鍵運行參數(shù)的變化進行篩選，剔除早期失效，提高產(chǎn)品可靠性，這些參數(shù)通常包括閾值電流，在特定工作條件下的輸出光功率，達到特定輸出光功率所需要的電流，斜線效率以及光譜特性等等。聯(lián)訊儀器CoC測試聯(lián)訊儀器全自動CoC測試系統(tǒng)CT6201 ，與聯(lián)訊儀器 BI6201老化系統(tǒng)共用夾具，

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聯(lián)訊儀器 | CoC老化系統(tǒng)
2022.11.30

半導體激光器是光收發(fā)模塊核心器件，其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量，CoC老化測試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測試設備通過控制老化溫度，老化電流，老化時長等測試條件，對老化前后的激光器功率變化，閾值變化等進行評估，將產(chǎn)品設計制造中的材料缺陷，加工缺陷等及早篩選出來，提高了進入后端工序的產(chǎn)品的可靠性！

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聯(lián)訊儀器 | CoC分選機
2022.11.19

CoC (Chip on Carrier) / CoS（Chip on Sub-mount）架構(gòu)已成為二極管/激光器的流行封裝樣式。CoC 通常采用定制的waffle pack 或者Gel-Pak來運輸存儲，并在測試老化等不同工序流轉(zhuǎn)。由于CoC本身尺寸較小，在裝配運輸CoC時極易產(chǎn)生損傷，包括人工夾取過程中的機械損傷，操作過程中產(chǎn)生ESD損傷，裝配過程中引入其他材質(zhì)導致污染等等，這些情況嚴重影響產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。

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聯(lián)訊儀器裸Die半導體激光器芯片測試機
2022.11.16

芯片良率是影響企業(yè)成本的重要因素之一，半導體激光器屬于化合物半導體，其主要材質(zhì)以非常脆的砷化鎵、磷化銦為主，在其制備的各個工藝環(huán)節(jié)，良品率不高是一個普遍問題。以國外知名芯片企業(yè)為例，其生產(chǎn)能達到70%以上良率，但后道封裝以及最終產(chǎn)品嚴格判定標準等累計具有30%良率的損失。良品率不高，就需要專用的測試裝備對不良品進行篩選，

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新品 ┃ 聯(lián)訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C
2022.11.03

聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。其最小測量分辨率達10fA/100nV，輸出電壓高達±200V。進一步拓展了PXIe源表的應用場景，工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 來測量低電流信號，同時PXIe SMU 的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性可實現(xiàn)晶圓級參數(shù)測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應用。

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聯(lián)訊儀器雙通道SMU-S3022F在晶體管測試中的應用
2022.10.20

聯(lián)訊儀器 S3022F 精密電源/測量單元是結(jié)構(gòu)緊湊、經(jīng)濟高效的雙通道臺式電源/測量單元(SMU)，能夠同時輸出并測量電壓和電流。這些功能使得 S3022F成為既需要高分辨率，又需要高精度的各種IV(電流與電壓)測量任務的理想選擇。S3022F擁有廣泛的電壓(±200 V)和電流(± 3A 直流和 ±10A 脈沖)電源功能、出色的精度，6位半的顯示(最低 100fA/100nV 顯示分辨率)以及卓越的彩色 LCD 圖形用戶界面(GUI)。

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新品 ┃ 聯(lián)訊儀器推出25G/50G突發(fā)誤碼儀
2022.09.30

隨著10G PON網(wǎng)絡部署和實施，下一代50G PON網(wǎng)絡的標準也已經(jīng)完善：2018年，ITU/FSAN啟動了基于單波長50G PON標準的制定工作，命名為G.HSP（G.Higher Speed PON）。2019年，50G PON的總體需求G.9804.1發(fā)布，明確了單波長TDM PON架構(gòu)，以及上下行速率組合，此外，50G PON需要滿足與10G PON以及存量ODN的共存平滑演進。

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聯(lián)訊儀器三體系內(nèi)審會議圓滿結(jié)束
2022.09.17

為了驗證公司的管理體系建設、部門流程運行等情況，確保其有效運行，也為了能夠給體系流程的改進提供依據(jù)，公司2022年6月初三體系試運行，茲定于2022年9月6日至2022年9月8日三天對各部門按內(nèi)審計劃進行一次管理體系內(nèi)部審核。2022年9月6日首次會議的召開，就審核計劃進行說明、審核注意事項進行講解和分發(fā)各部門查檢表。審核時間：2022年9月6日-2022年9月8日審核目的：為檢查本公司管理體系運

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聯(lián)訊儀器作為嘉賓出席2022年光器件產(chǎn)業(yè)技術(shù)研討會
2022.08.02

2022年7月29日，“追光新時代，創(chuàng)芯新征程”為主題的中國電子元件行業(yè)協(xié)會“2022’光器件產(chǎn)業(yè)技術(shù)研討會”在古都洛陽牡丹城大酒店舉辦。本次會議主題是：追光新時代，創(chuàng)芯新征程——光器件產(chǎn)業(yè)發(fā)展回顧與展望研討會。聯(lián)訊儀器董事長胡海洋做了《光電芯片、器件、模塊測試技術(shù)發(fā)展狀況匯報》的專題報告，并與參會專家進行了對話交流。會議對光電子產(chǎn)業(yè)五年規(guī)劃完成情況進行了總結(jié)，國內(nèi)光器件廠商、終端用戶的專家和行業(yè)

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