時(shí)鐘恢復(fù)
CR3302
120GBaud 時(shí)鐘恢復(fù)單元
聯(lián)訊儀器 CR3302 是結(jié)構(gòu)緊湊、經(jīng)濟(jì)高效的臺(tái)式高速信號(hào)時(shí)鐘恢復(fù)單元。支持 25~120 GBaud 速率下的 NRZ/PAM4 信號(hào)時(shí)鐘提取，應(yīng)用于 1.6T 光模塊及接口的時(shí)鐘提取。產(chǎn)品具備高靈敏度，低固有抖動(dòng)等特性，擁有出色的測(cè)量精度，可從閉合的眼圖信號(hào)中恢復(fù)出干凈的時(shí)鐘信號(hào)。
特點(diǎn)
速率寬泛
支持 25~120 GBaud 速率下的 NRZ/PAM4 信號(hào)時(shí)鐘提取
性能優(yōu)異
鎖定速度快
輸入波長(zhǎng)范圍
1200~1600 nm
多種分頻輸出
支持1/2（25/50GBaud）, 1/4, 1/8
恢復(fù)時(shí)鐘隨機(jī)抖動(dòng)
≤200 fs (typical)
配置靈活
支持光/電信號(hào)時(shí)鐘恢復(fù)
靈敏度高
-9 dBm@106.25 GBaud PAM4
使用便捷
支持本地觸摸屏和遠(yuǎn)程命令控制|
指標(biāo)類(lèi)型 |
指標(biāo)參數(shù) |
|
時(shí)鐘恢復(fù)速率范圍 |
25~120GBaud (常用速率) |
|
支持調(diào)制類(lèi)型 |
NRZ/PAM4 |
|
光接口 |
FC/UPC |
|
電接口 |
2.92 mm female，50 Ω |
|
輸入光信號(hào)功率范圍 |
-10 ~ +5 dBm |
|
接收機(jī)靈敏度 |
-9 dBm@106.25 GBaud PAM4/1310 nm （typical） |
|
輸入波長(zhǎng)范圍 |
1200 ~ 1600 nm |
|
出廠(chǎng)校準(zhǔn)波長(zhǎng) [1] |
1310 ±10 nm |
|
恢復(fù)時(shí)鐘分頻比 |
1/2（25/50GBaud），1/4，1/8 |
|
時(shí)鐘輸出幅度 |
＞300 mVpp |
|
恢復(fù)時(shí)鐘隨機(jī)抖動(dòng) |
≤200 fs (typical) |
|
時(shí)鐘輸出電口特征阻抗 |
50 Ω |
|
環(huán)路濾波器帶寬 |
100k~4 MHz (typical) |
[1] ±10 nm 是指光源的波長(zhǎng)誤差
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光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對(duì)我國(guó)大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場(chǎng)的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測(cè)試測(cè)量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長(zhǎng)計(jì)，光譜儀，流量?jī)x以及通用光測(cè)量?jī)x表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。
Details
半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，能夠滿(mǎn)足客戶(hù)日益增長(zhǎng)的多樣化需求。
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